二氧化硅的紅外光譜測定

簡要描述：紅外光譜測定二氧化硅的方法通常涉及將樣品制備成適當(dāng)?shù)男问剑绻腆w薄片、顆?；蛉芤?，并利用紅外光譜儀進(jìn)行測量。儀器通過向樣品施加紅外輻射，測量經(jīng)過樣品后未被吸收的光的強(qiáng)度變化。

產(chǎn)品型號：FTIR920
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新日期：2024-12-16
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紅外光譜儀（IR 傅立葉）

紅外光譜儀

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詳細(xì)介紹

品牌	TP/拓普	信噪比	15,000：1（RMS值,在2100 cm-1附近,4 cm-1分辨率,1分鐘
掃描速度	2mm/S秒	分辨率	1.0cm-1
波數(shù)范圍	7800-375cm-1	儀器類型	實驗室型
價格區(qū)間	15萬-20萬	儀器種類	傅立葉變換型（FT)
應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,化工,建材,電子,制藥

　　二氧化硅是一種重要的無機(jī)材料，在紅外光譜分析中具有廣泛的應(yīng)用。紅外光譜是通過測量物質(zhì)在紅外輻射區(qū)域的吸收和散射來研究其分子結(jié)構(gòu)和化學(xué)特性的一種方法。

　　二氧化硅的紅外光譜測定主要基于其分子振動模式引起的吸收峰。在紅外光譜圖上，常見的吸收峰包括伸縮振動、彎曲振動和對稱拉伸振動等。

　　二氧化硅的主要吸收峰位于1000-1200cm^-1的區(qū)域，這些峰代表了硅氧鍵的伸縮振動。此外，還存在于800-1100cm^-1范圍內(nèi)的Si-O-Si彎曲振動峰。這些振動模式提供了關(guān)于二氧化硅的分子結(jié)構(gòu)和鍵合情況的信息。

　　FTIR920的軟件

　　視窗軟件隨整套系統(tǒng)一并提供。此軟件能滿足全部標(biāo)準(zhǔn)分析的要求，包括光譜數(shù)據(jù)處理、儀器控制、多圖同時預(yù)覽。在干涉圖或光譜的分析模型上，也能提供濾波、基線校正、交互編輯和數(shù)據(jù)操作。同時也有光譜扣除、混合扣除、濾波衍生、譜圖預(yù)覽等功能。數(shù)據(jù)輸入和輸出可以是ASCII 或JCAMP格式。其他包括Thermo/Galactic GRAMS在內(nèi)的商業(yè)程序也可以使用，例如圖庫搜索。Interspec軟件程序是在32位保護(hù)模式下編寫的。我們?yōu)椴煌δ艿膽?yīng)用設(shè)計了專門的軟件，這些軟件操作簡便而且免費(fèi)提供。通過添加其他商業(yè)程序，比如：搜索、成份識別、Kramers Kronig變換、化學(xué)統(tǒng)計等，對程序的功能進(jìn)行擴(kuò)展,從而滿足個別需求。

　　二氧化硅的紅外光譜測定的方法通常涉及將樣品制備成適當(dāng)?shù)男问剑绻腆w薄片、顆粒或溶液，并利用紅外光譜儀進(jìn)行測量。儀器通過向樣品施加紅外輻射，測量經(jīng)過樣品后未被吸收的光的強(qiáng)度變化。

　　在進(jìn)行紅外光譜測定時，需要注意一些因素。首先，樣品應(yīng)該足夠純凈，以避免其他雜質(zhì)對光譜結(jié)果的影響。其次，在選擇紅外輻射源和檢測器時，應(yīng)根據(jù)所需的波長范圍和靈敏度進(jìn)行合理選擇。此外，還需要校準(zhǔn)儀器，并使用適當(dāng)?shù)膮⒖嘉镔|(zhì)進(jìn)行光譜數(shù)據(jù)的分析和解釋。

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